Extrusion Asia Edition 2-2019

360度圆周上测量管材的壁厚、直径、 椭圆度、内径和熔垂。SIKORA管材销 售业务总监 Christian Schalich表示： “CENTERWAVE 6000令人瞩目之处不 仅是因其测量范围，最重要的是由于该 技术为挤出生产操作所带来的好处。” 通过该测量系统的应用，管材的外形尺 寸能够迅速达到技术要求，同时减少了 生产线启动时产生的废料，确保产品具 有最佳品质，工艺流程得到最佳控制。 此外，该检测系统不需要任何耦合介 质，它可以精确且独立地进行测量，不 受外部因素（例如温度或塑料材料类 型）的影响，并且不需要校准。“此 外，该设备可以自动确定准确的折射 率”，Schalich说。折射率决定了毫米波 穿过材料的强度及速度，因此对测量精 度起决定性作用。在这样的模式下，就 无 需 手 动 输 入 修 改 生 产 相 关 的 参 数。Schalich补充说：“操作员便可得益 于这样一个集成在生产线上的测量系统 ，可在生产线启动后直接获得可靠且重 复性好的测量值”。 在 板 材 挤 出 生 产 中 使 用 PLANOWAVE 6000进行厚度测量 ： SIKORA的 PLANOWAVE 6000是一种 非接触式测量系统，用于在塑料板材挤 出过程中进行无损的厚度测量。该系统 可测量由工程塑料（如POM）和高性能 塑料（如PEEK）等制成的板材 。 PLANOWAVE 6000还适用于透明板材 和合成塑料板材的测量，如PMMA、发 泡PVC以及玻璃。该测量系统采用的是 毫米波检测技术，具有最佳的测量精 度，不受板材的材料和温度的影响，也 不需要根据不同的材料进行校准。 PLANOWAVE 6000可以直接安装在板 材生产线的热态或冷态的位置。在控制 系统ECOCONTROL 6000的显示屏上 可以实时观测到测量值。除了对片材断 面整个走向上的测量数值进行显示外， 该系统还可为操作员还提供各种测量数 值趋势图以及统计分析功能。 首发产品：用于异色杂质检测的光 学实验室检测系统PURITY CONCEPT V ：SIKORA公司在本次K展上首次展出 PURITY CONCEPT V，这是一款用于 塑料材料的光学实验室检测系统。该系 统配备了自动光学检测台，塑料颗粒可 放置在样品托盘上自动通过检查区域。 在极短的时间内，彩色成像系统对物料 进行检测，并能够以光标的形式将含杂 质颗粒的位置进行标示。通过对扫描图 像的分析，如在透明颗粒、不反光材料 及有色颗粒的外表面上大于50微米的杂 质能够被自动识别、显示并进行统计学 分析。这样，操作员就可以随时准确地 找出杂质颗粒的所在并进行后续检测。 该实验室光学检测系统的另一个特点是 可以自动检测有颜色偏差的颗粒。 PURITY CONCEPT V在展台的实 地材料测试 ： “让技术变得生动”是 SIKORA 在本次K展的核心活动主题。 通过模拟的实验室环境，SIKORA公司 提供在现场通过PURITY CONCEPT V 进行实地的材料测试。在展会开展前客 户已经被邀请参加此次活动，并事先提 供样品颗粒用于免费的测试，这些样品 将直接在展区进行检测和分析。客户也 可以选择在观展的时候携带少量的样 品，在展区直接进行检测和分析。“实 地的样品颗粒测试是证明系统功能的最 佳方式，并为客户了解该系统具备哪些 优势提供资讯，”SIKORA商务拓展及塑 料行业区域销售经理Hilger Groß说道。 “通过实地的测试，我们的客户可以亲 自确认系统的精确、快速和易操作等特 性，”Groß解释道。 采用X射线检测技术的实验室检测 系统PURITY CONCEPT X用于检测金 属杂质 ：此外，SIKORA的展台还将展 出采用X射线检测技术的实验室检测系统 PURITY CONCEPT X，该系统用于检查 有色颗粒中的金属杂质，这些杂质在可 见 光 的 检 测 系 统 中 是 不 可 见 的 。 PURITY CONCEPT X采用的自动化操作 设计原理， SIKORA公司已于2016年推 出使用，如今已成为SIKORA公司实验室 测试系统的设计基础。 由于采用了X 射 线技术，它还可以检测颗粒表面和内部 的杂质。“PURITY CONCEPT X特别适 用于黑色和彩色材料的样品检测。除此 之外，我们还可以看到该检测系统对用 于高压电缆绝缘层的半导体材料进行检 测应用的可能性。 例如，在这些材料颗 粒中可能存在由于挤出机的金属部分磨 损带入的金属杂质，通过该系统的应 用，就可以可靠地检测出金属杂质并进 行全面的分析。“Hilger Groß解释说。 使 用 PURITY SCANNER AD- VANCED进行光学在线检测和杂质分离 - 同时可作为“Twin Pack”用于更高物料 产量的场合 ：SIKORA展台的另一个 亮 点 是 PURITY SCANNER AD- VANCED，它可用于塑料颗粒的在线光 学检测和杂质分离。该系统将X射线成 像系统与最多四个的黑白和/或彩色成像 系统进行组合。这种组合方式可确保检 测出颗粒内部的金属杂质、有颜色偏差 的颗粒以及颗粒表面上的黑色斑点。被 检测到的杂质颗粒会被自动剔除。PU- RITY SCANNER ADVANCED采用了功 能强大的处理器系统和智能软件，是一 款可靠的产品品质保障设备。专业的数 据分析管理（PDAM）系统提供对检测 到的杂质进行统计分析，按杂质的大小 和出现频率进行归类，在生产中将光学 成像系统和X射线成像系统检测到的杂 质颗粒图像存储备查。Hilger Groß说 道：“市场上关于材料洁净度的质量要 求日益提升。因此，在线杂质检测和分 离就具有更大的意义。 PURITY SCAN- NER ADVANCED是市场上同类产品中 最有效的分拣系统。” 对于物料产量很 高的场合，分拣系统可提供“Twin Pack” 的解决方案，该解决方案将首次在K展 上进行展示。该系统特别适用于光学分 拣和应用，其特点是有着更高的检出 PLANOWAVE 6000对板材的厚度进行测量，板材的材料可以是工程塑料（如POM）、 高性能塑料（如PEEK），透明广告材料（如PMMA）、发泡PVC及玻璃等 44 预习 / Preview Extrusion Asia Edition 2/2019 The PLANOWAVE 6000 measures the thickness of sheets made of technical plastics such as POM and high-performance plastics like PEEK as well as transparent and advertising plastics like PMMA and PVC-FOAM and glass